SYP-1550D差热分析仪

差热分析仪是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。 

主要测量与热量有关的物理、化学变化，如物质的熔点、熔化热、结晶与结晶热、

相变反应热、热稳定性（氧化诱导期）、玻璃化转变温度、

氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应。

主要特点：

1.  全新全封闭式高级陶瓷炉体设计结构，大大提升灵敏度和分辨率以及更好的基线稳定性。 

2.  采用进口合金传感器，更抗腐蚀，抗氧化，传感器灵敏度高。

3.   采用Cortex-M3内核ARM控制器，运算处理速度更快，温度控制更精确。

4.  采用USB双向通讯，完全实现智能化操作。

5.  采用7寸24bit色全彩LCD触摸屏，实时显示仪器的状态和数据。

6.  智能化软件设计，仪器全程自动绘图，软件可实现各种数据处理，

如热焓的计算、玻璃化转变温度、氧化诱导期、物质的熔点及结晶等等。

差热分析仪参考标准：

GB/T 19466.2 – 2004 / ISO 11357-2: 1999第2部分：玻璃化转变温度的测定；

GB/T 19466.3 – 2004 / ISO 11357-3: 1999第3部分：熔融和结晶温度及热焓的测定；

GB /T 19466.6- 2009/ISO 11357-3 :1999 第6部分氧化诱导期 

氧化诱导时间（等温OIT)和氧化诱导温度（动要态OIT)的测定。